Measurement and modeling of silicon heterostructure devices:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Cressler, John D. 1961- (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Boca Raton, Fla. [u.a.] CRC Press 2008
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:Getr. Zählung
ISBN:9781420066920
1420066927

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