Elektronenmikroskopie: Grundlagen, Methoden, Anwendungen
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Flegler, Stanley L. (VerfasserIn), Heckman, John W. (VerfasserIn), Klomparens, Karen L. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Heidelberg [u. a.] Spektrum Akad. Verl. 1995
Schlagworte:
Beschreibung:279 S. Ill.
ISBN:3860253417

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