Analyse und Modellierung des Alterungsverhaltens Lateraler DMOS-Transistoren bei Belastung durch heiße Ladungsträger:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Riedlberger, Eva 1981- (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 2011
Schlagworte:
Online-Zugang:https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:706-2600
kostenfrei
Beschreibung:IX, 132 S. zahlr. Ill., graph. Darst.

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