Der elektrische Feldgradient in Silicium, Germanium und Graphit nach 19F-Rückstossimplantation [F-Rückstossimplantation]:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Röseler, Burkhard (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1988
Schlagworte:
Beschreibung:107 S. graph. Darst.

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