Profilanalyse bei der Reflexionselektronenbeugung (RHEED): elastische und inelastische Streuung:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Müller, Bert (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI-Verl. 1994
Ausgabe:Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:Fortschritt-Berichte VDI Reihe 9, Elektronik ; 197
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:VI, 64 S. Ill., zahlr. graph. Darst.
ISBN:318319709X

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