Rastertunnelmikroskopie an technischen Oberflächen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Stephan, Roland (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Darmstadt Ges. für Schwerionenforschung 1993
Schriftenreihe:Gesellschaft für Schwerionenforschung <Darmstadt>: GSI-Report 93,34
Schlagworte:
Beschreibung:III, 120 S. Ill., graph. Darst.

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