Strukturanalyse mit Rastertunnelmikroskopie an Halbleiter- und Eisenoxyd-Oberflächen im Ultrahochvakuum:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Tarrach, Guido (VerfasserIn)
Format: Mikrofilm Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1993
Ausgabe:[Mikrofiche-Ausg.]
Schlagworte:
Beschreibung:Basel, Univ., Diss. 1993. - Mikrofiche-Ausg.: 1 Mikrofiche : 24x
Beschreibung:IV, 82 Bl. Ill., graph. Darst.

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