New trends in ion beam processing from ions and cluster ion beams to engineering issues: proceedings of the E-MRS '95 spring meeting, Symp. J on Correlated Effects in Atomic and Cluster Ion Bombardment and Implantation ; Symp. C on Pushing the Limits of Ion Beam Processing - from engineering to atomic scale issues ; Strasbourg, France, May 22 - 26, 1995
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam [u.a.] North-Holland 1996
Schlagworte:
Beschreibung:In: Nuclear instruments & methods in physics research / B ; 112 (1996), 1/4
Beschreibung:XV, 355 S. Ill., graph. Darst.

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