Holdings: Ellipsometrische Untersuchung dünner Edelmetallfilme auf Si(111)

Ellipsometrische Untersuchung dünner Edelmetallfilme auf Si(111):

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Bibliographic Details
Main Author:	Masten, Angelika 1970- (Author)
Format:	Thesis Book
Language:	German
Published:	2001
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