Verfügbarkeit: Ellipsometrische Untersuchung dünner Edelmetallfilme auf Si(111)

Ellipsometrische Untersuchung dünner Edelmetallfilme auf Si(111):

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Masten, Angelika 1970- (VerfasserIn)
Format:	Abschlussarbeit Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	2001
Schlagworte:	Silicium - Kristallfläche - Edelmetall - Dünne Schicht - Ellipsometrie Edelmetall Kristallfläche Silicium Dünne Schicht Ellipsometrie Hochschulschrift
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