Three-dimensional imaging, optical metrology, and inspection IV:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 1998
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE / Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers 3520
Schlagworte:
Beschreibung:IX, 304 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0819429813

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