Testentwurf zur Erkennung von Verzögerungsfehlern in hochintegrierten Schaltungen:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Aachen
Shaker
1996
|
| Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
| Schriftenreihe: | Berichte aus der Informatik
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
| Beschreibung: | Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1996 |
| Beschreibung: | X, 134 S. graph. Darst. |
| ISBN: | 3826516273 |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV010877063 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 19970108 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 960722s1996 gw d||| m||| 00||| ger d | ||
| 016 | 7 | |a 948076828 |2 DE-101 | |
| 020 | |a 3826516273 |c Pb. : DM 89.00, sfr 89.00, S 619.00 |9 3-8265-1627-3 | ||
| 035 | |a (OCoLC)75763309 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV010877063 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 044 | |a gw |c DE | ||
| 049 | |a DE-91 |a DE-12 | ||
| 084 | |a ELT 468d |2 stub | ||
| 084 | |a ELT 359d |2 stub | ||
| 100 | 1 | |a Wittmann, Hannes |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Testentwurf zur Erkennung von Verzögerungsfehlern in hochintegrierten Schaltungen |c Hannes Wittmann |
| 250 | |a Als Ms. gedr. | ||
| 264 | 1 | |a Aachen |b Shaker |c 1996 | |
| 300 | |a X, 134 S. |b graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 0 | |a Berichte aus der Informatik | |
| 500 | |a Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1996 | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Testmustergenerierung |0 (DE-588)4234817-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Fehlersimulation |0 (DE-588)4234819-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Verknüpfungsglied |0 (DE-588)4135908-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Verzögerungszeit |0 (DE-588)4400439-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Digitalschaltung |0 (DE-588)4012295-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Fehlererkennung |0 (DE-588)4133764-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a VLSI |0 (DE-588)4117388-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Digitalschaltung |0 (DE-588)4012295-5 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a VLSI |0 (DE-588)4117388-0 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Verknüpfungsglied |0 (DE-588)4135908-2 |D s |
| 689 | 0 | 3 | |a Verzögerungszeit |0 (DE-588)4400439-4 |D s |
| 689 | 0 | 4 | |a Fehlererkennung |0 (DE-588)4133764-5 |D s |
| 689 | 0 | 5 | |a Fehlersimulation |0 (DE-588)4234819-5 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Digitalschaltung |0 (DE-588)4012295-5 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a VLSI |0 (DE-588)4117388-0 |D s |
| 689 | 1 | 2 | |a Verknüpfungsglied |0 (DE-588)4135908-2 |D s |
| 689 | 1 | 3 | |a Verzögerungszeit |0 (DE-588)4400439-4 |D s |
| 689 | 1 | 4 | |a Fehlererkennung |0 (DE-588)4133764-5 |D s |
| 689 | 1 | 5 | |a Testmustergenerierung |0 (DE-588)4234817-1 |D s |
| 689 | 1 | |5 DE-604 | |
| 856 | 4 | 2 | |m DNB Datenaustausch |q application/pdf |u http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007272528&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA |3 Inhaltsverzeichnis |
| 943 | 1 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007272528 | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1807682025784606720 |
|---|---|
| adam_text |
INHALTSVERZEICHNIS
1
EINLEITUNG
1
1.1
TESTEN
DIGITALER
SCHALTUNGEN
.
3
1.1.1
TESTABLAUF
.
YY
.
4
1.1.2
FEHLERMODCLLE
.
5
1.1.3
PRUEFPFADTECHNIKEN
.
6
1.2
AUFGABENSTELLUNG
DES
TESTENTWURFS
.
7
1.3
STAND
DER
TECHNIK
.
10
1.4
ZIELE
DER
ARBEIT
.
16
1.5
PRUEFPFADTECHNIKEN
FUER
DEN
DYNAMISCHEN
TEST
.
18
2
GRUNDLAGEN
19
2.1
SCHALTUNGSBESCHREIBUNG
.
20
2.1.1
BESCHREIBUNG
DER
KOMBINATORIK
.
20
2.1.2
BESCHREIBUNG
DES
SEQUENTIELLEN
VERHALTENS
.
23
2.2
DAS
PFADVERZOEGERUNGSFEHLERMODELL
.
25
2.2.1
DAS
TESTMODELL
.
25
2.2.2
MODELLIERUNG
VON
VERZOEGERUNGSFEHLERN
.
26
2.2.3
FEHLERERKENNUNG
.
28
2.2.4
AUFGABENSTELLUNG
.
32
II
I
NHALTSVERZEICHNIS
3
UNTERSUCHUNG
DES
VERZOEGERUNGSFEHLERMODELLS
33
3.1
REDUNDANTE
VERZOEGERUNGSFEHLER
.
34
3.2
KLASSIFIZIERUNG
DER
VERZOEGERUNGSFEHLER
.
35
3.3
VERZOEGERUNGSDEFEKTWAHRSCHEINLICHKEIT
N
'
J
.
39
3.4
DISKUSSION
DER
UNTERSUCHUNGEN
.
41
4
VERWALTUNG
FUNKTIONALER
PFADE
43
4.1
SPEICHERUNG
FUNKTIONALER
PFADE
.
44
4.2
DIE
PFADKENNUNG
.
46
4.2.1
GRUNDGATTER
.
46
4.2.2
XOR/XNOR
GATTER
.
47
4.2.3
BEISPIEL
.
48
4.3
SPEICHERUNG
DER
PFADINFORMATION
.
49
5
FEHLERSIMULATION
51
5.1
FEHLERSIMULATION
FUER
VERZOEGERUNGSFEHLER
.
52
5.1.1
INITIALISIERUNG
DER
PRIMAEREINGAENGE
UND
GUTSIMULATION
.
52
5.1.2
IDENTIFIKATION
DER
ERKENNBAREN
VERZOEGERUNGSFEHLER
.
53
5.1.3
BEISPIEL
.
55
5.2
BESCHLEUNIGUNGSMETHODEN
.
56
5.2.1
CODIERUNG
DER
LOGISCHEN
WERTE
.
56
5.2.2
SEGMENT-SPEICHERUNG
.
59
5.2.3
KOMBINIERT
ROBUST/NICHT
ROBUSTE
FEHLERSIMULATION
.
64
5.3
SEQUENTIELLE
SCHALTUNGEN
MIT
SCAN
PATH
.
68
6
AUTOMATISCHE
TESTMUSTERGENERIERUNG
71
6.1
ATG
FUER
VERZOEGERUNGSFEHLER
.
72
6.1.1
DIE
TESTMUSTERGENERIERUNG
ALS
SUCHVERFAHREN
.
72
I
NHALTSVERZEICHNIS
III
6.1.2
GRUNDSAETZLICHE
VORGEHENSWEISE
.
73
6.2
DIE
PFADSENSIBILISIERUNG
.
76
6.3
LOGIKEN
FUER
DIE
TESTMUSTERGENERIERUNG
.
77
6.4
DIE
IMPLIKATIONSPROZEDUR
.
81
6.4.1
AUSWERTUNG
DER
GATTERFUNKTION
.
82
6.4.2
IMPLIKATION
.
84
6.5
BEISPIEL
.
87
7
EXPERIMENTELLE
ERGEBNISSE
89
7.1
DEFEKTWAHRSCHEINLICHKEIT
.
90
7.2
VERWALTUNG
FUNKTIONALER
PFADE
.
95
7.3
FEHLERSIMULATION
.
97
7.4
AUTOMATISCHE
TESTMUSTERGENERIERUNG
.
100
ZUSAMMENFASSUNG
105
LITERATURVERZEICHNIS
109
A
VEREINBARUNGEN,
FORMELZEICHEN
UND
ABKUERZUNGEN
121
A.L
VEREINBARUNGEN
UND
FORMELZEICHEN
.
121
A.2
ABKUERZUNGEN
.
124
B
STANDARDABWEICHUNG
DER
PFADLAUFZEIT
125
C
TABELLEN
FUER
FS
UND
ATG
127
C.L
TABELLEN
ZUR
FEHLERSIMULATION
.
127
C.2
TABELLEN
ZUR
AUTOMATISCHEN
TESTMUSTERGENERIERUNG
.
128
D
SCHALTUNGSCHARAKTERISTIKA
133
IV
I
NHALTSVERZEICHNIS
KURZFASSUNG
135 |
| any_adam_object | 1 |
| author | Wittmann, Hannes |
| author_facet | Wittmann, Hannes |
| author_role | aut |
| author_sort | Wittmann, Hannes |
| author_variant | h w hw |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV010877063 |
| classification_tum | ELT 468d ELT 359d |
| ctrlnum | (OCoLC)75763309 (DE-599)BVBBV010877063 |
| discipline | Elektrotechnik |
| edition | Als Ms. gedr. |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>00000nam a2200000 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV010877063</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">19970108</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">960722s1996 gw d||| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">948076828</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3826516273</subfield><subfield code="c">Pb. : DM 89.00, sfr 89.00, S 619.00</subfield><subfield code="9">3-8265-1627-3</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)75763309</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV010877063</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">DE</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-12</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ELT 468d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ELT 359d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Wittmann, Hannes</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Testentwurf zur Erkennung von Verzögerungsfehlern in hochintegrierten Schaltungen</subfield><subfield code="c">Hannes Wittmann</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Als Ms. gedr.</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Aachen</subfield><subfield code="b">Shaker</subfield><subfield code="c">1996</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">X, 134 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">Berichte aus der Informatik</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1996</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Testmustergenerierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234817-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fehlersimulation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234819-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Verknüpfungsglied</subfield><subfield code="0">(DE-588)4135908-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Verzögerungszeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4400439-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Digitalschaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4012295-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fehlererkennung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133764-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">VLSI</subfield><subfield code="0">(DE-588)4117388-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Digitalschaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4012295-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">VLSI</subfield><subfield code="0">(DE-588)4117388-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Verknüpfungsglied</subfield><subfield code="0">(DE-588)4135908-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Verzögerungszeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4400439-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">Fehlererkennung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133764-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="5"><subfield code="a">Fehlersimulation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234819-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Digitalschaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4012295-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">VLSI</subfield><subfield code="0">(DE-588)4117388-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">Verknüpfungsglied</subfield><subfield code="0">(DE-588)4135908-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="3"><subfield code="a">Verzögerungszeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4400439-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="4"><subfield code="a">Fehlererkennung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133764-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="5"><subfield code="a">Testmustergenerierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234817-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="2"><subfield code="m">DNB Datenaustausch</subfield><subfield code="q">application/pdf</subfield><subfield code="u">http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007272528&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA</subfield><subfield code="3">Inhaltsverzeichnis</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007272528</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV010877063 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-08-18T00:11:59Z |
| institution | BVB |
| isbn | 3826516273 |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007272528 |
| oclc_num | 75763309 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-12 |
| owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-12 |
| physical | X, 134 S. graph. Darst. |
| publishDate | 1996 |
| publishDateSearch | 1996 |
| publishDateSort | 1996 |
| publisher | Shaker |
| record_format | marc |
| series2 | Berichte aus der Informatik |
| spelling | Wittmann, Hannes Verfasser aut Testentwurf zur Erkennung von Verzögerungsfehlern in hochintegrierten Schaltungen Hannes Wittmann Als Ms. gedr. Aachen Shaker 1996 X, 134 S. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Berichte aus der Informatik Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1996 Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd rswk-swf Fehlersimulation (DE-588)4234819-5 gnd rswk-swf Verknüpfungsglied (DE-588)4135908-2 gnd rswk-swf Verzögerungszeit (DE-588)4400439-4 gnd rswk-swf Digitalschaltung (DE-588)4012295-5 gnd rswk-swf Fehlererkennung (DE-588)4133764-5 gnd rswk-swf VLSI (DE-588)4117388-0 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Digitalschaltung (DE-588)4012295-5 s VLSI (DE-588)4117388-0 s Verknüpfungsglied (DE-588)4135908-2 s Verzögerungszeit (DE-588)4400439-4 s Fehlererkennung (DE-588)4133764-5 s Fehlersimulation (DE-588)4234819-5 s DE-604 Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 s DNB Datenaustausch application/pdf http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007272528&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA Inhaltsverzeichnis |
| spellingShingle | Wittmann, Hannes Testentwurf zur Erkennung von Verzögerungsfehlern in hochintegrierten Schaltungen Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd Fehlersimulation (DE-588)4234819-5 gnd Verknüpfungsglied (DE-588)4135908-2 gnd Verzögerungszeit (DE-588)4400439-4 gnd Digitalschaltung (DE-588)4012295-5 gnd Fehlererkennung (DE-588)4133764-5 gnd VLSI (DE-588)4117388-0 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4234817-1 (DE-588)4234819-5 (DE-588)4135908-2 (DE-588)4400439-4 (DE-588)4012295-5 (DE-588)4133764-5 (DE-588)4117388-0 (DE-588)4113937-9 |
| title | Testentwurf zur Erkennung von Verzögerungsfehlern in hochintegrierten Schaltungen |
| title_auth | Testentwurf zur Erkennung von Verzögerungsfehlern in hochintegrierten Schaltungen |
| title_exact_search | Testentwurf zur Erkennung von Verzögerungsfehlern in hochintegrierten Schaltungen |
| title_full | Testentwurf zur Erkennung von Verzögerungsfehlern in hochintegrierten Schaltungen Hannes Wittmann |
| title_fullStr | Testentwurf zur Erkennung von Verzögerungsfehlern in hochintegrierten Schaltungen Hannes Wittmann |
| title_full_unstemmed | Testentwurf zur Erkennung von Verzögerungsfehlern in hochintegrierten Schaltungen Hannes Wittmann |
| title_short | Testentwurf zur Erkennung von Verzögerungsfehlern in hochintegrierten Schaltungen |
| title_sort | testentwurf zur erkennung von verzogerungsfehlern in hochintegrierten schaltungen |
| topic | Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd Fehlersimulation (DE-588)4234819-5 gnd Verknüpfungsglied (DE-588)4135908-2 gnd Verzögerungszeit (DE-588)4400439-4 gnd Digitalschaltung (DE-588)4012295-5 gnd Fehlererkennung (DE-588)4133764-5 gnd VLSI (DE-588)4117388-0 gnd |
| topic_facet | Testmustergenerierung Fehlersimulation Verknüpfungsglied Verzögerungszeit Digitalschaltung Fehlererkennung VLSI Hochschulschrift |
| url | http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007272528&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA |
| work_keys_str_mv | AT wittmannhannes testentwurfzurerkennungvonverzogerungsfehlerninhochintegriertenschaltungen |