Röntgenreflektometrie und Ionenstrahlmischen an ohmschen Kontakten auf GaAs:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Pirling, Thilo (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1995
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:138 S. Ill., graph. Darst.

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