Einfluß von Fremdatomen auf Struktur und Verteilung von Stufen auf den Vizinalflächen von Si(001):
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Bibliographic Details
Main Author: Waßerfall, Johannes (Author)
Format: Thesis Microfilm Book
Language:German
Published: 1994
Edition:[Mikrofiche-Ausg.]
Subjects:
Physical Description:VIII, 128 S. Ill., graph. Darst.

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