Einfluß von Fremdatomen auf Struktur und Verteilung von Stufen auf den Vizinalflächen von Si(001):
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Waßerfall, Johannes (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Mikrofilm Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1994
Ausgabe:[Mikrofiche-Ausg.]
Schlagworte:
Beschreibung:VIII, 128 S. Ill., graph. Darst.

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