Proceedings of the ACM SIGSOFT '89 third Symposium on Software Testing, Analysis, and Verification (TAV 3): Key West, Florida, Dec. 13-15, 1989
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: Symposium on Software Testing, Analysis, and Verification Key West, Fla (VerfasserIn), Association for Computing Machinery Special Interest Group on Software Engineering (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY ACM Press 1989
Schriftenreihe:Software engineering notes 14,8.
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufn. eines Zs.-Heftes
Beschreibung:VII, 229 S. graph. Darst.
ISBN:0897913426

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