Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Iniewski, Krzysztof (Kris) (HerausgeberIn), Cai, Liang (Kevin) (HerausgeberIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Cham Springer Nature Switzerland 2024
Cham Springer
Ausgabe:1st ed. 2024
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource (VII, 261 p. 75 illus. in color)
ISBN:9783031756535
DOI:10.1007/978-3-031-75653-5

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