Introduction to many-facet Rasch measurement:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Eckes, Thomas 1953- (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Lausanne ; Berlin ; Bruxelles ; Chennai ; New York ; Oxford Peter Lang [2023]
Schriftenreihe:Peter Lang classics
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Inhaltstext
https://www.peterlang.com/document/1353657
Beschreibung:241 Seiten Illustrationen 22 cm, 387 g
ISBN:3631903049
9783631903049

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Beschreibung