Micromechanical studies of interface properties in on-chip interconnect structures:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Heyn, Wieland (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Michaelis, Alexander (HerausgeberIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Stuttgart Fraunhofer Verlag 2024
Schriftenreihe:Schriftenreihe Kompetenzen in Keramik und Materialdiagnostik / Publication series competencies in ceramics and materials diagnostics 5
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltstext
Beschreibung:132 Seiten num., mostly col. illus. and tab 21 cm x 14.8 cm
ISBN:9783839620311
3839620317

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