Ellipso-Höhentopometrie zur Charakterisierung von technischen Oberflächen mit Materialkontrast:
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Bibliographic Details
Main Author: Raid, Indek 1985- (Author)
Format: Thesis Book
Language:German
Published: Kaiserslautern Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau 2023
Series:Berichte aus dem Lehrstuhl für Messtechnik und Sensorik Band 16
Subjects:
Online Access:Inhaltsverzeichnis
Inhaltsverzeichnis
Physical Description:VIII, 178 Seiten Illustrationen, Diagramme
ISBN:9783959742146
3959742142

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