Raid, I. (2023). Ellipso-Höhentopometrie zur Charakterisierung von technischen Oberflächen mit Materialkontrast. Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Raid, Indek. Ellipso-Höhentopometrie Zur Charakterisierung Von Technischen Oberflächen Mit Materialkontrast. Kaiserslautern: Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau, 2023.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Raid, Indek. Ellipso-Höhentopometrie Zur Charakterisierung Von Technischen Oberflächen Mit Materialkontrast. Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau, 2023.
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