Tu, K., & Liu, Y. (2024). Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC Technology (First edition.). CRC Press.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Tu, King-Ning, und Yingxia Liu. Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC Technology. First edition. New York, NY: CRC Press, 2024.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Tu, King-Ning, und Yingxia Liu. Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC Technology. First edition. CRC Press, 2024.
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