Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC Technology
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Tu, King-Ning (VerfasserIn), Liu, Yingxia (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY CRC Press [2024]
Ausgabe:First edition
Schlagworte:
Online-Zugang:DE-91
Beschreibung:Description based on print version record
Beschreibung:1 Online-Ressource (186 pages) Illustrationen
ISBN:9781003827429

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