Eignungsnachweis von Mess- und Prüfprozessen: Fähigkeit, Eignung und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Vorheriger Titel:Dietrich, Edgar Eignungsnachweiß von Prüfprozessen
Hauptverfasser: Dietrich, Edgar 1951- (VerfasserIn), Conrad, Stephan (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: München Hanser [2024]
Ausgabe:6., überarbeitete Auflage
Schlagworte:
Beschreibung:XV, 399 Seiten Illustrationen, Diagramme 25 cm
ISBN:9783446476981

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