Xia, F., Rangelow, I. W., & Youcef-Toumi, K. (2024). Active probe atomic force microscopy: A practical guide on precision instrumentation. Springer.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Xia, Fangzhou, Ivo W. Rangelow, und Kamal Youcef-Toumi. Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation. Cham, Switzerland: Springer, 2024.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Xia, Fangzhou, et al. Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation. Springer, 2024.
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