Proceedings of the 1995 ACM SIGMETRICS joint international conference on Measurement and modeling of computer systems:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Gaither, Blaine D (VerfasserIn)
Körperschaft: SIGMETRICS95: ACM SIGMETRICS Conference on Measurement & Modeling of Computer Systems (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York,NY,United States Association for Computing Machinery 1995
Schriftenreihe:ACM Conferences
Online-Zugang:UBM01
URL des Erstveröffentlichers
Beschreibung:1 Online-Ressource (340 Seiten)
ISBN:9780897916950

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand! Volltext öffnen