Proceedings of the 2nd International Workshop on Defects in Large Software Systems: Held in conjunction with the ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis (ISSTA 2009):
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Liblit, Ben (VerfasserIn)
Körperschaft: ISSTA '09: International Symposium on Software Testing and Analysis (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York,NY,United States Association for Computing Machinery 2009
Schriftenreihe:ACM Conferences
Online-Zugang:UBM01
Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource (34 Seiten)
ISBN:9781605586540

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand! Volltext öffnen