Structural, syntactic, and statistical pattern recognition: Joint IAPR international workshops, S+SSPR 2022, Montreal, QC, Canada, August 26-27, 2022 : proceedings
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: IAPR Joint International Workshops on Statistical Techniques in Pattern Recognition and Structural and Syntactic Pattern Recognition Montréal (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Krzyzak, Adam (HerausgeberIn), Suen, Ching Y. 1942- (HerausgeberIn), Torsello, Andrea (HerausgeberIn), Nobile, Nicola (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Cham Springer [2022]
Schriftenreihe:Lecture notes in computer science 13813
Schlagworte:
Beschreibung:xiii, 324 Seiten Illustrationen, Diagramme
ISBN:9783031230271

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