Technology assessment in a globalized world: facing the challenges of transnational technology governance
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Hennen, Leonhard (HerausgeberIn), Hahn, Julia (HerausgeberIn), Ladikas, Miltos (HerausgeberIn), Lindner, Ralf 1971- (HerausgeberIn), Peissl, Walter 1959- (HerausgeberIn), Est, Quirinus Cornelis van (HerausgeberIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Cham, Switzerland Springer [2023]
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Volltext
Beschreibung:Open Access
Beschreibung:1 Online-Ressource (xiii, 271 Seiten) Illustrationen
ISBN:9783031106170
DOI:10.1007/978-3-031-10617-0