VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17–19, 2022, Revised Selected Papers
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Shah, Ambika Prasad (HerausgeberIn), Dasgupta, Sudeb (HerausgeberIn), Darji, Anand (HerausgeberIn), Tudu, Jaynarayan (HerausgeberIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Cham Springer Nature Switzerland 2022
Cham Springer
Ausgabe:1st ed. 2022
Schriftenreihe:Communications in Computer and Information Science 1687
Schlagworte:
Online-Zugang:BTU01
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Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource (XVIII, 596 p. 410 illus., 316 illus. in color)
ISBN:9783031215148
ISSN:1865-0937
DOI:10.1007/978-3-031-21514-8