Hyperspectral imaging microscopy for atomic layer mapping of two-dimensional materials:
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Dong, Xingchen (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Düren Shaker Verlag 2022
Schriftenreihe:Reports on measurement and sensor systems
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung:iii, 164 Seiten Illustrationen, Diagramme 21 cm x 14.8 cm, 260 g
ISBN:9783844085174
3844085173

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