IoT System Testing: An IoT Journey from Devices to Analytics and the Edge
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Hagar, Jon Duncan (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Berkeley, CA Apress 2022
Berkeley, CA
Ausgabe:1st ed. 2022
Schlagworte:
Online-Zugang:FAB01
FAW01
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FWS02
HTW01
UBR01
UBW01
UBY01
Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource (XIX, 326 p. 162 illus)
ISBN:9781484282762
DOI:10.1007/978-1-4842-8276-2