Beitrag zur Betrachtung von MTTF-Spurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Kassel
Kassel University Press GmbH_Legacy
2016
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | kostenfrei |
| Beschreibung: | 1 Online-Ressource |
| ISBN: | 3737602050 9783737602051 |
| Zugangseinschränkungen: | Open Access |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nmm a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV048281913 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | cr|uuu---uuuuu | ||
| 008 | 220610s2016 |||| o||u| ||||||eng d | ||
| 020 | |a 3737602050 |q (electronic bk.) |9 3737602050 | ||
| 020 | |a 9783737602051 |q (electronic bk.) |9 9783737602051 | ||
| 020 | |z 9783737602044 |9 9783737602044 | ||
| 035 | |a (OCoLC)1256558186 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV048281913 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rda | ||
| 041 | 0 | |a eng | |
| 049 | |a DE-355 | ||
| 100 | 1 | |a Dang, P. N. Thao |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Beitrag zur Betrachtung von MTTF-Spurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508 |c Pham Nhu Thao Dang |
| 264 | 1 | |a Kassel |b Kassel University Press GmbH_Legacy |c 2016 | |
| 300 | |a 1 Online-Ressource | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b c |2 rdamedia | ||
| 338 | |b cr |2 rdacarrier | ||
| 505 | 8 | |a Front Cover; Titelseite; Impressum; Widmung; Danksagung; Zusammenfassung; Abstract; Inhaltsverzeichnis; Abkürzungsverzeichnis; Abbildungsverzeichnis; Tabellenverzeichnis; Symbolverzeichnis; 1 Einleitung; 1.1 Stand der internationalen Normen; 1.2 Stand der Technik; 1.3 Ziele der Arbeit; 1.4 Aufbau der Arbeit; 2 Sicherheitstechnische Systeme und RAMS+C Modellierung; 2.1 Sicherheitstechnische Systeme; 2.2 RAMS+C Modellierung; 2.2.1 Modellierung der Ausfallwahrscheinlichkeit; 2.2.2 Modellierung der Spurious-Trip Rate; 2.2.3 Modellierung der Lebenszykluskosten; 2.3 Zusammenfassung | |
| 505 | 8 | |a 3 Spurious-Trip Ausfall und dessen Kenngröße3.1 Definition des Spurious-Trips aus herkömmlichen Verfahren; 3.2 Spurious-Trip Kenngröße; 3.2.1 Hardware-Fehlertoleranz; 3.2.2 Spurious-Trip Rate; 3.2.3 Zuverlässigkeitsfunktion des Spurious-Trips; 3.2.4 Probability of Failure Spurious-Trip; 3.2.5 Mean Time To Failure Spurious-Trip; 3.2.6 Spurious-Trip Level; 3.3 Neuer Ansatz zur Betrachtung des Spurious-Trips; 3.3.1 Lösungsansatz mit Blockdiagramm; 3.3.2 Lösungsansatz mit Markov-Modell; 3.3.3 Voraussetzung und Beschränkung der Analyse des Lösungsansatzes; 3.4 Zusammenfassung | |
| 505 | 8 | |a 4 Berechnung der Spurious-Trip Parameter mittels Blockdiagramm4.1 1oo1-Architektur; 4.2 1oo2-Architektur; 4.3 2oo2-Architektur; 4.4 2oo3-Architektur; 4.5 1oon-Architektur; 4.6 koon-Architektur; 4.7 Zusammenfassung; 5 Berechnung der Spurious-Trip Parameter mittels Markov-Modell; 5.1 1oo1-Architektur; 5.2 1oo2-Architektur; 5.3 2oo2-Architektur; 5.4 koon-Architektur; 5.5 Zusammenfassung; 6 Bewertung und Analyse der Ergebnisse; 6.1 Bewertung und Analyse der Ergebnisse aus dem Blockdiagramm; 6.2 Bewertung und Analyse der Ergebnisse aus dem Markov-Modell; 6.2.1 1oo1-Architektur | |
| 505 | 8 | |a 6.2.2 1oo2-Architektur6.2.3 2oo2-Architektur; 6.2.4 Resultierende Ergebnisse im Vergleich; 6.3 Resultierende Ergebnisse und herkömmliche Verfahren im Vergleich; 6.4 Zusammenfassung; 7 Abschließende Betrachtung und Ausblick; Anhang; A Markov-Kette; B Sicherheitsparameter; C Veröffentlichungen; Literaturverzeichnis; Back Cover | |
| 506 | 0 | |a Open Access |5 EbpS | |
| 650 | 7 | |a Sécurité du travail |2 Modèles mathématiques | |
| 650 | 7 | |a Industrial safety |2 Mathematical models | |
| 650 | 4 | |a Industrial safety |x Mathematical models | |
| 653 | 6 | |a Electronic books | |
| 776 | 0 | 8 | |i Erscheint auch als |n Druck-Ausgabe |a Dang, P.N. Thao |t Beitrag zur Betrachtung von MTTFSpurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508 |d Kassel : Kassel University Press, ©2016 |z 9783737602044 |
| 856 | 4 | 0 | |u https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&AN=1434988 |x Verlag |z kostenfrei |3 Volltext |
| 912 | |a ZDB-4-EOAC | ||
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-033662079 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804184107689705472 |
|---|---|
| adam_txt | |
| any_adam_object | |
| any_adam_object_boolean | |
| author | Dang, P. N. Thao |
| author_facet | Dang, P. N. Thao |
| author_role | aut |
| author_sort | Dang, P. N. Thao |
| author_variant | p n t d pnt pntd |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV048281913 |
| collection | ZDB-4-EOAC |
| contents | Front Cover; Titelseite; Impressum; Widmung; Danksagung; Zusammenfassung; Abstract; Inhaltsverzeichnis; Abkürzungsverzeichnis; Abbildungsverzeichnis; Tabellenverzeichnis; Symbolverzeichnis; 1 Einleitung; 1.1 Stand der internationalen Normen; 1.2 Stand der Technik; 1.3 Ziele der Arbeit; 1.4 Aufbau der Arbeit; 2 Sicherheitstechnische Systeme und RAMS+C Modellierung; 2.1 Sicherheitstechnische Systeme; 2.2 RAMS+C Modellierung; 2.2.1 Modellierung der Ausfallwahrscheinlichkeit; 2.2.2 Modellierung der Spurious-Trip Rate; 2.2.3 Modellierung der Lebenszykluskosten; 2.3 Zusammenfassung 3 Spurious-Trip Ausfall und dessen Kenngröße3.1 Definition des Spurious-Trips aus herkömmlichen Verfahren; 3.2 Spurious-Trip Kenngröße; 3.2.1 Hardware-Fehlertoleranz; 3.2.2 Spurious-Trip Rate; 3.2.3 Zuverlässigkeitsfunktion des Spurious-Trips; 3.2.4 Probability of Failure Spurious-Trip; 3.2.5 Mean Time To Failure Spurious-Trip; 3.2.6 Spurious-Trip Level; 3.3 Neuer Ansatz zur Betrachtung des Spurious-Trips; 3.3.1 Lösungsansatz mit Blockdiagramm; 3.3.2 Lösungsansatz mit Markov-Modell; 3.3.3 Voraussetzung und Beschränkung der Analyse des Lösungsansatzes; 3.4 Zusammenfassung 4 Berechnung der Spurious-Trip Parameter mittels Blockdiagramm4.1 1oo1-Architektur; 4.2 1oo2-Architektur; 4.3 2oo2-Architektur; 4.4 2oo3-Architektur; 4.5 1oon-Architektur; 4.6 koon-Architektur; 4.7 Zusammenfassung; 5 Berechnung der Spurious-Trip Parameter mittels Markov-Modell; 5.1 1oo1-Architektur; 5.2 1oo2-Architektur; 5.3 2oo2-Architektur; 5.4 koon-Architektur; 5.5 Zusammenfassung; 6 Bewertung und Analyse der Ergebnisse; 6.1 Bewertung und Analyse der Ergebnisse aus dem Blockdiagramm; 6.2 Bewertung und Analyse der Ergebnisse aus dem Markov-Modell; 6.2.1 1oo1-Architektur 6.2.2 1oo2-Architektur6.2.3 2oo2-Architektur; 6.2.4 Resultierende Ergebnisse im Vergleich; 6.3 Resultierende Ergebnisse und herkömmliche Verfahren im Vergleich; 6.4 Zusammenfassung; 7 Abschließende Betrachtung und Ausblick; Anhang; A Markov-Kette; B Sicherheitsparameter; C Veröffentlichungen; Literaturverzeichnis; Back Cover |
| ctrlnum | (OCoLC)1256558186 (DE-599)BVBBV048281913 |
| format | Electronic eBook |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>03737nmm a2200421 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV048281913</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">cr|uuu---uuuuu</controlfield><controlfield tag="008">220610s2016 |||| o||u| ||||||eng d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3737602050</subfield><subfield code="q">(electronic bk.)</subfield><subfield code="9">3737602050</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783737602051</subfield><subfield code="q">(electronic bk.)</subfield><subfield code="9">9783737602051</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="z">9783737602044</subfield><subfield code="9">9783737602044</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)1256558186</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV048281913</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rda</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">eng</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-355</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Dang, P. N. Thao</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Beitrag zur Betrachtung von MTTF-Spurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508</subfield><subfield code="c">Pham Nhu Thao Dang</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Kassel</subfield><subfield code="b">Kassel University Press GmbH_Legacy</subfield><subfield code="c">2016</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">1 Online-Ressource</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">c</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">cr</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="505" ind1="8" ind2=" "><subfield code="a">Front Cover; Titelseite; Impressum; Widmung; Danksagung; Zusammenfassung; Abstract; Inhaltsverzeichnis; Abkürzungsverzeichnis; Abbildungsverzeichnis; Tabellenverzeichnis; Symbolverzeichnis; 1 Einleitung; 1.1 Stand der internationalen Normen; 1.2 Stand der Technik; 1.3 Ziele der Arbeit; 1.4 Aufbau der Arbeit; 2 Sicherheitstechnische Systeme und RAMS+C Modellierung; 2.1 Sicherheitstechnische Systeme; 2.2 RAMS+C Modellierung; 2.2.1 Modellierung der Ausfallwahrscheinlichkeit; 2.2.2 Modellierung der Spurious-Trip Rate; 2.2.3 Modellierung der Lebenszykluskosten; 2.3 Zusammenfassung</subfield></datafield><datafield tag="505" ind1="8" ind2=" "><subfield code="a">3 Spurious-Trip Ausfall und dessen Kenngröße3.1 Definition des Spurious-Trips aus herkömmlichen Verfahren; 3.2 Spurious-Trip Kenngröße; 3.2.1 Hardware-Fehlertoleranz; 3.2.2 Spurious-Trip Rate; 3.2.3 Zuverlässigkeitsfunktion des Spurious-Trips; 3.2.4 Probability of Failure Spurious-Trip; 3.2.5 Mean Time To Failure Spurious-Trip; 3.2.6 Spurious-Trip Level; 3.3 Neuer Ansatz zur Betrachtung des Spurious-Trips; 3.3.1 Lösungsansatz mit Blockdiagramm; 3.3.2 Lösungsansatz mit Markov-Modell; 3.3.3 Voraussetzung und Beschränkung der Analyse des Lösungsansatzes; 3.4 Zusammenfassung</subfield></datafield><datafield tag="505" ind1="8" ind2=" "><subfield code="a">4 Berechnung der Spurious-Trip Parameter mittels Blockdiagramm4.1 1oo1-Architektur; 4.2 1oo2-Architektur; 4.3 2oo2-Architektur; 4.4 2oo3-Architektur; 4.5 1oon-Architektur; 4.6 koon-Architektur; 4.7 Zusammenfassung; 5 Berechnung der Spurious-Trip Parameter mittels Markov-Modell; 5.1 1oo1-Architektur; 5.2 1oo2-Architektur; 5.3 2oo2-Architektur; 5.4 koon-Architektur; 5.5 Zusammenfassung; 6 Bewertung und Analyse der Ergebnisse; 6.1 Bewertung und Analyse der Ergebnisse aus dem Blockdiagramm; 6.2 Bewertung und Analyse der Ergebnisse aus dem Markov-Modell; 6.2.1 1oo1-Architektur</subfield></datafield><datafield tag="505" ind1="8" ind2=" "><subfield code="a">6.2.2 1oo2-Architektur6.2.3 2oo2-Architektur; 6.2.4 Resultierende Ergebnisse im Vergleich; 6.3 Resultierende Ergebnisse und herkömmliche Verfahren im Vergleich; 6.4 Zusammenfassung; 7 Abschließende Betrachtung und Ausblick; Anhang; A Markov-Kette; B Sicherheitsparameter; C Veröffentlichungen; Literaturverzeichnis; Back Cover</subfield></datafield><datafield tag="506" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">Open Access</subfield><subfield code="5">EbpS</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Sécurité du travail</subfield><subfield code="2">Modèles mathématiques</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Industrial safety</subfield><subfield code="2">Mathematical models</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Industrial safety</subfield><subfield code="x">Mathematical models</subfield></datafield><datafield tag="653" ind1=" " ind2="6"><subfield code="a">Electronic books</subfield></datafield><datafield tag="776" ind1="0" ind2="8"><subfield code="i">Erscheint auch als</subfield><subfield code="n">Druck-Ausgabe</subfield><subfield code="a">Dang, P.N. Thao</subfield><subfield code="t">Beitrag zur Betrachtung von MTTFSpurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508</subfield><subfield code="d">Kassel : Kassel University Press, ©2016</subfield><subfield code="z">9783737602044</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="0"><subfield code="u">https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&AN=1434988</subfield><subfield code="x">Verlag</subfield><subfield code="z">kostenfrei</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZDB-4-EOAC</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-033662079</subfield></datafield></record></collection> |
| id | DE-604.BV048281913 |
| illustrated | Not Illustrated |
| index_date | 2024-07-03T20:00:57Z |
| indexdate | 2024-07-10T09:34:05Z |
| institution | BVB |
| isbn | 3737602050 9783737602051 |
| language | English |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-033662079 |
| oclc_num | 1256558186 |
| open_access_boolean | 1 |
| owner | DE-355 DE-BY-UBR |
| owner_facet | DE-355 DE-BY-UBR |
| physical | 1 Online-Ressource |
| psigel | ZDB-4-EOAC |
| publishDate | 2016 |
| publishDateSearch | 2016 |
| publishDateSort | 2016 |
| publisher | Kassel University Press GmbH_Legacy |
| record_format | marc |
| spelling | Dang, P. N. Thao Verfasser aut Beitrag zur Betrachtung von MTTF-Spurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508 Pham Nhu Thao Dang Kassel Kassel University Press GmbH_Legacy 2016 1 Online-Ressource txt rdacontent c rdamedia cr rdacarrier Front Cover; Titelseite; Impressum; Widmung; Danksagung; Zusammenfassung; Abstract; Inhaltsverzeichnis; Abkürzungsverzeichnis; Abbildungsverzeichnis; Tabellenverzeichnis; Symbolverzeichnis; 1 Einleitung; 1.1 Stand der internationalen Normen; 1.2 Stand der Technik; 1.3 Ziele der Arbeit; 1.4 Aufbau der Arbeit; 2 Sicherheitstechnische Systeme und RAMS+C Modellierung; 2.1 Sicherheitstechnische Systeme; 2.2 RAMS+C Modellierung; 2.2.1 Modellierung der Ausfallwahrscheinlichkeit; 2.2.2 Modellierung der Spurious-Trip Rate; 2.2.3 Modellierung der Lebenszykluskosten; 2.3 Zusammenfassung 3 Spurious-Trip Ausfall und dessen Kenngröße3.1 Definition des Spurious-Trips aus herkömmlichen Verfahren; 3.2 Spurious-Trip Kenngröße; 3.2.1 Hardware-Fehlertoleranz; 3.2.2 Spurious-Trip Rate; 3.2.3 Zuverlässigkeitsfunktion des Spurious-Trips; 3.2.4 Probability of Failure Spurious-Trip; 3.2.5 Mean Time To Failure Spurious-Trip; 3.2.6 Spurious-Trip Level; 3.3 Neuer Ansatz zur Betrachtung des Spurious-Trips; 3.3.1 Lösungsansatz mit Blockdiagramm; 3.3.2 Lösungsansatz mit Markov-Modell; 3.3.3 Voraussetzung und Beschränkung der Analyse des Lösungsansatzes; 3.4 Zusammenfassung 4 Berechnung der Spurious-Trip Parameter mittels Blockdiagramm4.1 1oo1-Architektur; 4.2 1oo2-Architektur; 4.3 2oo2-Architektur; 4.4 2oo3-Architektur; 4.5 1oon-Architektur; 4.6 koon-Architektur; 4.7 Zusammenfassung; 5 Berechnung der Spurious-Trip Parameter mittels Markov-Modell; 5.1 1oo1-Architektur; 5.2 1oo2-Architektur; 5.3 2oo2-Architektur; 5.4 koon-Architektur; 5.5 Zusammenfassung; 6 Bewertung und Analyse der Ergebnisse; 6.1 Bewertung und Analyse der Ergebnisse aus dem Blockdiagramm; 6.2 Bewertung und Analyse der Ergebnisse aus dem Markov-Modell; 6.2.1 1oo1-Architektur 6.2.2 1oo2-Architektur6.2.3 2oo2-Architektur; 6.2.4 Resultierende Ergebnisse im Vergleich; 6.3 Resultierende Ergebnisse und herkömmliche Verfahren im Vergleich; 6.4 Zusammenfassung; 7 Abschließende Betrachtung und Ausblick; Anhang; A Markov-Kette; B Sicherheitsparameter; C Veröffentlichungen; Literaturverzeichnis; Back Cover Open Access EbpS Sécurité du travail Modèles mathématiques Industrial safety Mathematical models Electronic books Erscheint auch als Druck-Ausgabe Dang, P.N. Thao Beitrag zur Betrachtung von MTTFSpurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508 Kassel : Kassel University Press, ©2016 9783737602044 https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&AN=1434988 Verlag kostenfrei Volltext |
| spellingShingle | Dang, P. N. Thao Beitrag zur Betrachtung von MTTF-Spurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508 Front Cover; Titelseite; Impressum; Widmung; Danksagung; Zusammenfassung; Abstract; Inhaltsverzeichnis; Abkürzungsverzeichnis; Abbildungsverzeichnis; Tabellenverzeichnis; Symbolverzeichnis; 1 Einleitung; 1.1 Stand der internationalen Normen; 1.2 Stand der Technik; 1.3 Ziele der Arbeit; 1.4 Aufbau der Arbeit; 2 Sicherheitstechnische Systeme und RAMS+C Modellierung; 2.1 Sicherheitstechnische Systeme; 2.2 RAMS+C Modellierung; 2.2.1 Modellierung der Ausfallwahrscheinlichkeit; 2.2.2 Modellierung der Spurious-Trip Rate; 2.2.3 Modellierung der Lebenszykluskosten; 2.3 Zusammenfassung 3 Spurious-Trip Ausfall und dessen Kenngröße3.1 Definition des Spurious-Trips aus herkömmlichen Verfahren; 3.2 Spurious-Trip Kenngröße; 3.2.1 Hardware-Fehlertoleranz; 3.2.2 Spurious-Trip Rate; 3.2.3 Zuverlässigkeitsfunktion des Spurious-Trips; 3.2.4 Probability of Failure Spurious-Trip; 3.2.5 Mean Time To Failure Spurious-Trip; 3.2.6 Spurious-Trip Level; 3.3 Neuer Ansatz zur Betrachtung des Spurious-Trips; 3.3.1 Lösungsansatz mit Blockdiagramm; 3.3.2 Lösungsansatz mit Markov-Modell; 3.3.3 Voraussetzung und Beschränkung der Analyse des Lösungsansatzes; 3.4 Zusammenfassung 4 Berechnung der Spurious-Trip Parameter mittels Blockdiagramm4.1 1oo1-Architektur; 4.2 1oo2-Architektur; 4.3 2oo2-Architektur; 4.4 2oo3-Architektur; 4.5 1oon-Architektur; 4.6 koon-Architektur; 4.7 Zusammenfassung; 5 Berechnung der Spurious-Trip Parameter mittels Markov-Modell; 5.1 1oo1-Architektur; 5.2 1oo2-Architektur; 5.3 2oo2-Architektur; 5.4 koon-Architektur; 5.5 Zusammenfassung; 6 Bewertung und Analyse der Ergebnisse; 6.1 Bewertung und Analyse der Ergebnisse aus dem Blockdiagramm; 6.2 Bewertung und Analyse der Ergebnisse aus dem Markov-Modell; 6.2.1 1oo1-Architektur 6.2.2 1oo2-Architektur6.2.3 2oo2-Architektur; 6.2.4 Resultierende Ergebnisse im Vergleich; 6.3 Resultierende Ergebnisse und herkömmliche Verfahren im Vergleich; 6.4 Zusammenfassung; 7 Abschließende Betrachtung und Ausblick; Anhang; A Markov-Kette; B Sicherheitsparameter; C Veröffentlichungen; Literaturverzeichnis; Back Cover Sécurité du travail Modèles mathématiques Industrial safety Mathematical models |
| title | Beitrag zur Betrachtung von MTTF-Spurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508 |
| title_auth | Beitrag zur Betrachtung von MTTF-Spurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508 |
| title_exact_search | Beitrag zur Betrachtung von MTTF-Spurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508 |
| title_exact_search_txtP | Beitrag zur Betrachtung von MTTF-Spurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508 |
| title_full | Beitrag zur Betrachtung von MTTF-Spurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508 Pham Nhu Thao Dang |
| title_fullStr | Beitrag zur Betrachtung von MTTF-Spurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508 Pham Nhu Thao Dang |
| title_full_unstemmed | Beitrag zur Betrachtung von MTTF-Spurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508 Pham Nhu Thao Dang |
| title_short | Beitrag zur Betrachtung von MTTF-Spurious-Modellierung im Zusammenhang mit dem internationalen Sicherheitsstandard IEC 61508 |
| title_sort | beitrag zur betrachtung von mttf spurious modellierung im zusammenhang mit dem internationalen sicherheitsstandard iec 61508 |
| topic | Sécurité du travail Modèles mathématiques Industrial safety Mathematical models |
| topic_facet | Sécurité du travail Industrial safety Industrial safety Mathematical models |
| url | https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&AN=1434988 |
| work_keys_str_mv | AT dangpnthao beitragzurbetrachtungvonmttfspuriousmodellierungimzusammenhangmitdeminternationalensicherheitsstandardiec61508 |