Einfluss der Temperaturwechselbedingungen auf Fehlermechanismus und Lebensdauer von SnAgCu Lotverbindungen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schambeck, Simon (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Berlin 2022
Schlagworte:
Online-Zugang:kostenfrei
Beschreibung:154 Seiten, 10 ungezählte Seiten Illustrationen, Diagramme
DOI:10.14279/depositonce-15286

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