Optical Metrology for Precision Engineering:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Gao, Wei (VerfasserIn), Shimizu, Yuki (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin De Gruyter [2022]
Schlagworte:
Online-Zugang:DE-1043
DE-1046
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DE-91
DE-706
DE-739
Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource
ISBN:9783110542363
DOI:10.1515/9783110542363