Optical Metrology for Precision Engineering:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Gao, Wei (VerfasserIn), Shimizu, Yuki (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin De Gruyter [2022]
Schlagworte:
Online-Zugang:FAB01
FAW01
FCO01
FHA01
FHR01
FKE01
FLA01
FWS01
FWS02
TUM01
UBY01
UPA01
Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource
ISBN:9783110542363
DOI:10.1515/9783110542363