Optical metrology for precision engineering:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Gao, Wei (VerfasserIn), Shimizu, Yuki (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin ; Boston De Gruyter [2022]
Schlagworte:
Online-Zugang:https://www.degruyter.com/books/9783110541090
Beschreibung:XI, 644 Seiten Illustrationen, Diagramme 24 cm x 17 cm
ISBN:9783110541090

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