X-ray structure analysis:
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Siegrist, Theo (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin De Gruyter [2022]
Schriftenreihe:De Gruyter graduate
Schlagworte:
Online-Zugang:Beschreibung für Leser
Beschreibung:X, 239 Seiten Illustrationen, Diagramme 24 cm x 17 cm
ISBN:3110610701
9783110610703

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