Physical principles of electron microscopy: an introduction to TEM, SEM and AEM
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Egerton, Ray (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: [Cham] Springer [2016]
Ausgabe:Second edition
Schlagworte:
Online-Zugang:DE-91
DE-355
Beschreibung:1 Online-Ressource (xi, 196 Seiten) Illustrationen, Diagramme
ISBN:9783319398778

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