Advanced VLSI design and testability issues:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Tripathi, Suman Lata (HerausgeberIn), Saxena, Sobhit (HerausgeberIn), Mohapatra, Sushanta Kumar (HerausgeberIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Boca Raton ; London ; New York CRC Press 2020
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Beschreibung:Description based on publisher supplied metadata and other sources
Beschreibung:1 Online-Ressource (404 Seiten)
ISBN:9781003083436
9781000168174
DOI:10.1201/9781003083436

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