Untersuchung der Wachstumskinetik von SiC mithilfe der in-situ Computertomographie des Gasphasenkristallisationsprozesses und der Modellierung der Wachstumsbedingungen:
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Bibliographic Details
Main Author: Arzig, Matthias (Author)
Format: Thesis Book
Language:German
Published: Düren Shaker Verlag 2021
Edition:1. Auflage
Series:Berichte aus der Halbleitertechnik
Subjects:
Online Access:Inhaltsverzeichnis
Physical Description:162 Seiten Illustrationen, Diagramme 21 cm x 14.8 cm, 249 g
ISBN:9783844081350
3844081356

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