Dissertatio Ivridica Selectas Observationes Forenses Continens:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Veiel, Christian Jakob 1724-1759 (BerufungsbeklagteR), Schill, Johann Friedrich -1770 (DruckerIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:Latin
Schlagworte:
Beschreibung:Ohne gedruckte Zählung ("II.") auf dem Titelblatt
Beschreibung:16 Seiten 4°

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!