X-ray diffraction for materials research: from fundamentals to applications
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Lee, Myeongkyu (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Oakville, Canada AAP, Apple Academic Press 2021
Ausgabe:First issued in paperback
Schlagworte:
Beschreibung:xii, 289 pages Illustrationen, Diagramme
ISBN:9781774635933
9781771882989

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