RF probe-induced on-wafer measurement errors in the millimeter-wave frequency range:
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Müller, Daniel (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Karlsruhe KIT Scientific Publishing 2018
Schriftenreihe:Karlsruher Forschungsberichte aus dem Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik Band 89
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung:1 Online-Ressource (xii, 180 Seiten) Illustrationen, Diagramme
DOI:10.5445/KSP/1000084392