Power, thermal, noise, and signal integrity issues on substrate/interconnects entanglement:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Ma, Yue (VerfasserIn), Gontrand, Christian (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Boca Raton ; London ; New York CRC Press, Taylor & Francis Group [2019]
Schlagworte:
Beschreibung:xiii, 226 Seiten Illustrationen, Diagramme 24 cm
ISBN:9780367023430

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