Metamodel-based methodology for the application fitness analysis of microelectronic devices in automative applications:
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Forster, Christine (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: München 2019
Schlagworte:
Beschreibung:viii, 128 Seiten Illustrationen, Diagramme

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