Testverfahren in der Mikroelektronik: Methoden und Werkzeuge
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Daehn, Wilfried (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Berlin Springer [2011]
Ausgabe:Softcover reprint of the hardcover 1st ed. 1997
Schriftenreihe:Mikroelektronik
Schlagworte:
Beschreibung:XI, 219 Seiten Illustrationen, Diagramme
ISBN:9783642644566

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