Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Canelas, António Manuel Lourenço (VerfasserIn), Guilherme, Jorge Manuel Correia (VerfasserIn), Horta, Nuno Cavaco Gomes (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Cham Springer International Publishing 2020
Cham Springer
Ausgabe:1st ed. 2020
Schlagworte:
Online-Zugang:BTU01
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Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource (XXIII, 237 p. 139 illus., 97 illus. in color)
ISBN:9783030415365
DOI:10.1007/978-3-030-41536-5