Kirkland, E. J. (2020). Advanced computing in electron microscopy (Third edition.). Springer. https://doi.org/10.1007/978-3-030-33260-0
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Kirkland, Earl J. Advanced Computing in Electron Microscopy. Third edition. Cham: Springer, 2020. https://doi.org/10.1007/978-3-030-33260-0.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Kirkland, Earl J. Advanced Computing in Electron Microscopy. Third edition. Springer, 2020. https://doi.org/10.1007/978-3-030-33260-0.
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