Gepulste Laserabscheidung von piezoelektrischen Pb(Zr,Ti)O3-Dünnschichten zur Anwendung in mikroelektromechanischen Systemen:
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Abschlussarbeit Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
Düren
Shaker Verlag
2019
|
Schriftenreihe: | Microactuators - Design and Technology
volume 18 |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
Beschreibung: | vi, 165 Seiten Illustrationen, Diagramme 24 cm x 17 cm, 370 g |
ISBN: | 9783844069372 3844069372 |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV046617908 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 20200702 | ||
007 | t | ||
008 | 200306s2019 gw a||| m||| 00||| ger d | ||
015 | |a 19,N36 |2 dnb | ||
016 | 7 | |a 1193743257 |2 DE-101 | |
020 | |a 9783844069372 |c EUR 48.80 (DE), EUR 48.80 (AT), CHF 61.10 (freier Preis) |9 978-3-8440-6937-2 | ||
020 | |a 3844069372 |9 3-8440-6937-2 | ||
024 | 3 | |a 9783844069372 | |
035 | |a (OCoLC)1164646744 | ||
035 | |a (DE-599)DNB1193743257 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rda | ||
041 | 0 | |a ger | |
044 | |a gw |c XA-DE-NW | ||
049 | |a DE-83 | ||
084 | |a ZN 3430 |0 (DE-625)157312: |2 rvk | ||
100 | 1 | |a Schatz, Andreas |e Verfasser |0 (DE-588)1199567701 |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Gepulste Laserabscheidung von piezoelektrischen Pb(Zr,Ti)O3-Dünnschichten zur Anwendung in mikroelektromechanischen Systemen |c Andreas Schatz |
264 | 1 | |a Düren |b Shaker Verlag |c 2019 | |
300 | |a vi, 165 Seiten |b Illustrationen, Diagramme |c 24 cm x 17 cm, 370 g | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
490 | 1 | |a Microactuators - Design and Technology |v volume 18 | |
502 | |b Dissertation |c Albert-Ludwigs-Universität Freiburg im Breisgau |d 2019 | ||
650 | 0 | 7 | |a Mikrostruktur |0 (DE-588)4131028-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Dünne Schicht |0 (DE-588)4136925-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a PZT |0 (DE-588)4329808-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Piezoelektrizität |0 (DE-588)4322722-3 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Impulslaserbeschichten |0 (DE-588)4476620-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a CMOS |0 (DE-588)4010319-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a MEMS |0 (DE-588)4824724-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Druckabhängigkeit |0 (DE-588)4345882-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Temperaturabhängigkeit |0 (DE-588)4203793-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Versuchsplanung |0 (DE-588)4078859-3 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
689 | 0 | 0 | |a MEMS |0 (DE-588)4824724-8 |D s |
689 | 0 | 1 | |a PZT |0 (DE-588)4329808-4 |D s |
689 | 0 | 2 | |a Dünne Schicht |0 (DE-588)4136925-7 |D s |
689 | 0 | 3 | |a Impulslaserbeschichten |0 (DE-588)4476620-8 |D s |
689 | 0 | 4 | |a Mikrostruktur |0 (DE-588)4131028-7 |D s |
689 | 0 | 5 | |a Piezoelektrizität |0 (DE-588)4322722-3 |D s |
689 | 0 | 6 | |a Druckabhängigkeit |0 (DE-588)4345882-8 |D s |
689 | 0 | 7 | |a Temperaturabhängigkeit |0 (DE-588)4203793-1 |D s |
689 | 0 | 8 | |a CMOS |0 (DE-588)4010319-5 |D s |
689 | 0 | 9 | |a Versuchsplanung |0 (DE-588)4078859-3 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
751 | |a Freiburg im Breisgau |0 (DE-588)4018272-1 |2 gnd |4 uvp | ||
830 | 0 | |a Microactuators - Design and Technology |v volume 18 |w (DE-604)BV037398759 |9 volume 18 | |
856 | 4 | 2 | |m DNB Datenaustausch |q application/pdf |u http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=032029683&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA |3 Inhaltsverzeichnis |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-032029683 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804181294222934016 |
---|---|
adam_text | INHALTSVERZEICHNIS
1.
EINLEITUNG
UND
ZIELSETZUNG
1
2.
GRUNDLAGEN
5
2.1.
DER
PIEZOELEKTRISCHE
EFFEKT
..........................................................................
5
2.2.
BLEI-ZIRKONAT-TITANAT
...................................................................................
10
2.2.1.
STRUKTURELLE
EIGENSCHAFTEN
.............................................................
10
2.2.2.
ELEKTRISCHE
EIGENSCHAFTEN
.............................................................
13
2.3.
STATISTISCHE
VERSUCHSPLANUNG
(DOE)
..........................................................
17
3.
MATERIALIEN
UND
METHODEN
19
3.1.
GEPULSTE
LASERABSCHEIDUNG
..........................................................................
19
3.2.
PROZESSTECHNOLOGIE
......................................................................................
24
3.3.
STRUKTURELLE
CHARAKTERISIERUNGSMETHODEN
.................................................
29
3.3.1.
RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE
..........................................................
29
3.3.2.
ROENT
GENDIFFRAKT
OMETRIE
....................................................................
29
3.3.3.
ROENTGENFLUORESZENZANALYSE
.............................................................
31
3.4.
ELEKTRISCHE
CHARAKTERISIERUNGSMETHODEN
.................................................
32
3.4.1.
LECKSTROMMESSUNGEN
.......................................................................
32
3.4.2.
DURCHBRUCHSMESSUNG
.......................................................................
35
3.4.3.
KAPAZITAETSMESSUNG
..........................................................................
37
3.4.4.
POLARISATIONSMESSUNG
.......................................................................
38
3.4.5.
E
3
IJ-MESSUNG
...................................................................................
40
3.5.
STATISTISCHE
VERSUCHSPLANUNG
.......................................................................
44
3.5.1.
EINFLUSS-
UND
ZIELGROESSEN
DER
DOE
.................................................
44
3.5.2.
AUFBAU
DER
STATISTISCHEN
VERSUCHSPLANUNG
..................................
47
4.
ERGEBNISSE
UND
DISKUSSION
49
4.1.
PROZESS-VORUNTERSUCHUNGEN
..........................................................................
49
4.1.1.
EINFLUESSE
NACHFOLGENDER
MEMS-PROZESSE
.....................................
50
4.1.2.
EINFLUSS
DES
TOPELEKTRODENMATERIALS
..............................................
57
4.1.3.
EINFLUSS
DES
UNTERHAUS
....................................................................
59
4.1.4.
ZUSAMMENFASSUNG
.............................................................................
62
4.2.
EMPIRISCHE
AUSWERTUNG
DER
DOE
.............................................................
64
4.2.1.
REGRESSIONSANALYSE
..........................................................................
65
4.2.2.
HAUPTEINFLUSSGROESSEN
.......................................................................
69
4.2.3.
EINFLUSS
DER
LNO-ABSCHEIDEPARAMETER
........................................
75
4.2.4.
KORRELATION
DER
ZIELGROESSEN
...............................................................
77
4.2.5.
DISKUSSION
UND
ZUSAMMENFASSUNG
..................................................
80
4.3.
EINFLUSS
VON
DRUCK
UND
TEMPERATUR
...........................................................
83
4.3.1.
EINFLUSS
AUF
DIE
MIKROSTRUKTUR
.........................................................
84
4.3.2.
EINFLUSS
AUF
(PIEZO-)
ELEKTRISCHE
EIGENSCHAFTEN
............................
88
4.3.3.
DISKUSSION
UND
ZUSAMMENFASSUNG
..................................................
91
4.4.
TIEFTEMPERATURABSCHEIDUNG
VON
PZT
........................................................
94
4.4.1.
ERHOEHUNG
DER
ABSCHEIDERATE
...........................................................
94
4.4.2.
VERRINGERUNG
DER
TEMPERATUR
UND
DES
DRUCKES
.................................
101
4.4.3.
TIEFTEMPERATURABSCHEIDUNG
AUF
OPTIMIERTER
L
N
O-
ST
ART
SCHICHT
.
106
4.4.4.
ZUSAMMENFASSUNG
.................................................................................
115
5.
ZUSAMMENFASSUNG
UND
AUSBLICK
117
5.1.
ZUSAMMENFASSUNG
..............................................................................................
117
5.2.
AUSBLICK
.............................................................................................................
119
A.
ANHANG
121
A.L.
METHODEN
UND
MATERIALIEN
..............................................................................
121
A.1.1.
BIEGEBALKENLAYOUTS
..............................................................................
121
A.1.2.
MESSUNG
DES
DIREKTEN
PIEZOELEKTRISCHEN
EFFEKTES
............................
122
A.2.
STATISTISCHE
VERSUCHSPLANUNG
(DOE)
...............................................................
123
A.2.1.
VERSUCHSPLAN
.......................................................................................
123
A.2.2.
RESIDUENANAYLSE
NACH
SCHRITTWEISER
REGRESSION
...............................
124
A.2.3.
KOEFFIZIENTENTABELLEN
NACH
SCHRITTWEISER
REGRESSION
......................
130
A.2.4.
PARETODIAGRAMME
DER
SIGNIFIKANTEN
EFFEKTE
.....................................
135
A.2.5.
BOXPLOTS
ZUR
EVALUATION
DER
REGIME
...............................................
137
A.3.
EINFLUSS
VON
DRUCK
UND
TEMPERATUR
...............................................................
138
LITERATURVERZEICHNIS
145
II
|
adam_txt |
INHALTSVERZEICHNIS
1.
EINLEITUNG
UND
ZIELSETZUNG
1
2.
GRUNDLAGEN
5
2.1.
DER
PIEZOELEKTRISCHE
EFFEKT
.
5
2.2.
BLEI-ZIRKONAT-TITANAT
.
10
2.2.1.
STRUKTURELLE
EIGENSCHAFTEN
.
10
2.2.2.
ELEKTRISCHE
EIGENSCHAFTEN
.
13
2.3.
STATISTISCHE
VERSUCHSPLANUNG
(DOE)
.
17
3.
MATERIALIEN
UND
METHODEN
19
3.1.
GEPULSTE
LASERABSCHEIDUNG
.
19
3.2.
PROZESSTECHNOLOGIE
.
24
3.3.
STRUKTURELLE
CHARAKTERISIERUNGSMETHODEN
.
29
3.3.1.
RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE
.
29
3.3.2.
ROENT
GENDIFFRAKT
OMETRIE
.
29
3.3.3.
ROENTGENFLUORESZENZANALYSE
.
31
3.4.
ELEKTRISCHE
CHARAKTERISIERUNGSMETHODEN
.
32
3.4.1.
LECKSTROMMESSUNGEN
.
32
3.4.2.
DURCHBRUCHSMESSUNG
.
35
3.4.3.
KAPAZITAETSMESSUNG
.
37
3.4.4.
POLARISATIONSMESSUNG
.
38
3.4.5.
E
3
IJ-MESSUNG
.
40
3.5.
STATISTISCHE
VERSUCHSPLANUNG
.
44
3.5.1.
EINFLUSS-
UND
ZIELGROESSEN
DER
DOE
.
44
3.5.2.
AUFBAU
DER
STATISTISCHEN
VERSUCHSPLANUNG
.
47
4.
ERGEBNISSE
UND
DISKUSSION
49
4.1.
PROZESS-VORUNTERSUCHUNGEN
.
49
4.1.1.
EINFLUESSE
NACHFOLGENDER
MEMS-PROZESSE
.
50
4.1.2.
EINFLUSS
DES
TOPELEKTRODENMATERIALS
.
57
4.1.3.
EINFLUSS
DES
UNTERHAUS
.
59
4.1.4.
ZUSAMMENFASSUNG
.
62
4.2.
EMPIRISCHE
AUSWERTUNG
DER
DOE
.
64
4.2.1.
REGRESSIONSANALYSE
.
65
4.2.2.
HAUPTEINFLUSSGROESSEN
.
69
4.2.3.
EINFLUSS
DER
LNO-ABSCHEIDEPARAMETER
.
75
4.2.4.
KORRELATION
DER
ZIELGROESSEN
.
77
4.2.5.
DISKUSSION
UND
ZUSAMMENFASSUNG
.
80
4.3.
EINFLUSS
VON
DRUCK
UND
TEMPERATUR
.
83
4.3.1.
EINFLUSS
AUF
DIE
MIKROSTRUKTUR
.
84
4.3.2.
EINFLUSS
AUF
(PIEZO-)
ELEKTRISCHE
EIGENSCHAFTEN
.
88
4.3.3.
DISKUSSION
UND
ZUSAMMENFASSUNG
.
91
4.4.
TIEFTEMPERATURABSCHEIDUNG
VON
PZT
.
94
4.4.1.
ERHOEHUNG
DER
ABSCHEIDERATE
.
94
4.4.2.
VERRINGERUNG
DER
TEMPERATUR
UND
DES
DRUCKES
.
101
4.4.3.
TIEFTEMPERATURABSCHEIDUNG
AUF
OPTIMIERTER
L
N
O-
ST
ART
SCHICHT
.
106
4.4.4.
ZUSAMMENFASSUNG
.
115
5.
ZUSAMMENFASSUNG
UND
AUSBLICK
117
5.1.
ZUSAMMENFASSUNG
.
117
5.2.
AUSBLICK
.
119
A.
ANHANG
121
A.L.
METHODEN
UND
MATERIALIEN
.
121
A.1.1.
BIEGEBALKENLAYOUTS
.
121
A.1.2.
MESSUNG
DES
DIREKTEN
PIEZOELEKTRISCHEN
EFFEKTES
.
122
A.2.
STATISTISCHE
VERSUCHSPLANUNG
(DOE)
.
123
A.2.1.
VERSUCHSPLAN
.
123
A.2.2.
RESIDUENANAYLSE
NACH
SCHRITTWEISER
REGRESSION
.
124
A.2.3.
KOEFFIZIENTENTABELLEN
NACH
SCHRITTWEISER
REGRESSION
.
130
A.2.4.
PARETODIAGRAMME
DER
SIGNIFIKANTEN
EFFEKTE
.
135
A.2.5.
BOXPLOTS
ZUR
EVALUATION
DER
REGIME
.
137
A.3.
EINFLUSS
VON
DRUCK
UND
TEMPERATUR
.
138
LITERATURVERZEICHNIS
145
II |
any_adam_object | 1 |
any_adam_object_boolean | 1 |
author | Schatz, Andreas |
author_GND | (DE-588)1199567701 |
author_facet | Schatz, Andreas |
author_role | aut |
author_sort | Schatz, Andreas |
author_variant | a s as |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV046617908 |
classification_rvk | ZN 3430 |
ctrlnum | (OCoLC)1164646744 (DE-599)DNB1193743257 |
discipline | Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik |
discipline_str_mv | Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik |
format | Thesis Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02939nam a2200649 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV046617908</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20200702 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">200306s2019 gw a||| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="015" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">19,N36</subfield><subfield code="2">dnb</subfield></datafield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">1193743257</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783844069372</subfield><subfield code="c">EUR 48.80 (DE), EUR 48.80 (AT), CHF 61.10 (freier Preis)</subfield><subfield code="9">978-3-8440-6937-2</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3844069372</subfield><subfield code="9">3-8440-6937-2</subfield></datafield><datafield tag="024" ind1="3" ind2=" "><subfield code="a">9783844069372</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)1164646744</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)DNB1193743257</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rda</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">XA-DE-NW</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-83</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 3430</subfield><subfield code="0">(DE-625)157312:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Schatz, Andreas</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)1199567701</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Gepulste Laserabscheidung von piezoelektrischen Pb(Zr,Ti)O3-Dünnschichten zur Anwendung in mikroelektromechanischen Systemen</subfield><subfield code="c">Andreas Schatz</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Düren</subfield><subfield code="b">Shaker Verlag</subfield><subfield code="c">2019</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">vi, 165 Seiten</subfield><subfield code="b">Illustrationen, Diagramme</subfield><subfield code="c">24 cm x 17 cm, 370 g</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Microactuators - Design and Technology</subfield><subfield code="v">volume 18</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">Dissertation</subfield><subfield code="c">Albert-Ludwigs-Universität Freiburg im Breisgau</subfield><subfield code="d">2019</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Mikrostruktur</subfield><subfield code="0">(DE-588)4131028-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Dünne Schicht</subfield><subfield code="0">(DE-588)4136925-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">PZT</subfield><subfield code="0">(DE-588)4329808-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Piezoelektrizität</subfield><subfield code="0">(DE-588)4322722-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Impulslaserbeschichten</subfield><subfield code="0">(DE-588)4476620-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">CMOS</subfield><subfield code="0">(DE-588)4010319-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">MEMS</subfield><subfield code="0">(DE-588)4824724-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Druckabhängigkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4345882-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Temperaturabhängigkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4203793-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Versuchsplanung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4078859-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">MEMS</subfield><subfield code="0">(DE-588)4824724-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">PZT</subfield><subfield code="0">(DE-588)4329808-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Dünne Schicht</subfield><subfield code="0">(DE-588)4136925-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Impulslaserbeschichten</subfield><subfield code="0">(DE-588)4476620-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">Mikrostruktur</subfield><subfield code="0">(DE-588)4131028-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="5"><subfield code="a">Piezoelektrizität</subfield><subfield code="0">(DE-588)4322722-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="6"><subfield code="a">Druckabhängigkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4345882-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Temperaturabhängigkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4203793-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="8"><subfield code="a">CMOS</subfield><subfield code="0">(DE-588)4010319-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="9"><subfield code="a">Versuchsplanung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4078859-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="751" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Freiburg im Breisgau</subfield><subfield code="0">(DE-588)4018272-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="4">uvp</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Microactuators - Design and Technology</subfield><subfield code="v">volume 18</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV037398759</subfield><subfield code="9">volume 18</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="2"><subfield code="m">DNB Datenaustausch</subfield><subfield code="q">application/pdf</subfield><subfield code="u">http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=032029683&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA</subfield><subfield code="3">Inhaltsverzeichnis</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-032029683</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
genre_facet | Hochschulschrift |
id | DE-604.BV046617908 |
illustrated | Illustrated |
index_date | 2024-07-03T14:07:12Z |
indexdate | 2024-07-10T08:49:22Z |
institution | BVB |
isbn | 9783844069372 3844069372 |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-032029683 |
oclc_num | 1164646744 |
open_access_boolean | |
owner | DE-83 |
owner_facet | DE-83 |
physical | vi, 165 Seiten Illustrationen, Diagramme 24 cm x 17 cm, 370 g |
publishDate | 2019 |
publishDateSearch | 2019 |
publishDateSort | 2019 |
publisher | Shaker Verlag |
record_format | marc |
series | Microactuators - Design and Technology |
series2 | Microactuators - Design and Technology |
spelling | Schatz, Andreas Verfasser (DE-588)1199567701 aut Gepulste Laserabscheidung von piezoelektrischen Pb(Zr,Ti)O3-Dünnschichten zur Anwendung in mikroelektromechanischen Systemen Andreas Schatz Düren Shaker Verlag 2019 vi, 165 Seiten Illustrationen, Diagramme 24 cm x 17 cm, 370 g txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Microactuators - Design and Technology volume 18 Dissertation Albert-Ludwigs-Universität Freiburg im Breisgau 2019 Mikrostruktur (DE-588)4131028-7 gnd rswk-swf Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 gnd rswk-swf PZT (DE-588)4329808-4 gnd rswk-swf Piezoelektrizität (DE-588)4322722-3 gnd rswk-swf Impulslaserbeschichten (DE-588)4476620-8 gnd rswk-swf CMOS (DE-588)4010319-5 gnd rswk-swf MEMS (DE-588)4824724-8 gnd rswk-swf Druckabhängigkeit (DE-588)4345882-8 gnd rswk-swf Temperaturabhängigkeit (DE-588)4203793-1 gnd rswk-swf Versuchsplanung (DE-588)4078859-3 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content MEMS (DE-588)4824724-8 s PZT (DE-588)4329808-4 s Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 s Impulslaserbeschichten (DE-588)4476620-8 s Mikrostruktur (DE-588)4131028-7 s Piezoelektrizität (DE-588)4322722-3 s Druckabhängigkeit (DE-588)4345882-8 s Temperaturabhängigkeit (DE-588)4203793-1 s CMOS (DE-588)4010319-5 s Versuchsplanung (DE-588)4078859-3 s DE-604 Freiburg im Breisgau (DE-588)4018272-1 gnd uvp Microactuators - Design and Technology volume 18 (DE-604)BV037398759 volume 18 DNB Datenaustausch application/pdf http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=032029683&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA Inhaltsverzeichnis |
spellingShingle | Schatz, Andreas Gepulste Laserabscheidung von piezoelektrischen Pb(Zr,Ti)O3-Dünnschichten zur Anwendung in mikroelektromechanischen Systemen Microactuators - Design and Technology Mikrostruktur (DE-588)4131028-7 gnd Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 gnd PZT (DE-588)4329808-4 gnd Piezoelektrizität (DE-588)4322722-3 gnd Impulslaserbeschichten (DE-588)4476620-8 gnd CMOS (DE-588)4010319-5 gnd MEMS (DE-588)4824724-8 gnd Druckabhängigkeit (DE-588)4345882-8 gnd Temperaturabhängigkeit (DE-588)4203793-1 gnd Versuchsplanung (DE-588)4078859-3 gnd |
subject_GND | (DE-588)4131028-7 (DE-588)4136925-7 (DE-588)4329808-4 (DE-588)4322722-3 (DE-588)4476620-8 (DE-588)4010319-5 (DE-588)4824724-8 (DE-588)4345882-8 (DE-588)4203793-1 (DE-588)4078859-3 (DE-588)4113937-9 |
title | Gepulste Laserabscheidung von piezoelektrischen Pb(Zr,Ti)O3-Dünnschichten zur Anwendung in mikroelektromechanischen Systemen |
title_auth | Gepulste Laserabscheidung von piezoelektrischen Pb(Zr,Ti)O3-Dünnschichten zur Anwendung in mikroelektromechanischen Systemen |
title_exact_search | Gepulste Laserabscheidung von piezoelektrischen Pb(Zr,Ti)O3-Dünnschichten zur Anwendung in mikroelektromechanischen Systemen |
title_exact_search_txtP | Gepulste Laserabscheidung von piezoelektrischen Pb(Zr,Ti)O3-Dünnschichten zur Anwendung in mikroelektromechanischen Systemen |
title_full | Gepulste Laserabscheidung von piezoelektrischen Pb(Zr,Ti)O3-Dünnschichten zur Anwendung in mikroelektromechanischen Systemen Andreas Schatz |
title_fullStr | Gepulste Laserabscheidung von piezoelektrischen Pb(Zr,Ti)O3-Dünnschichten zur Anwendung in mikroelektromechanischen Systemen Andreas Schatz |
title_full_unstemmed | Gepulste Laserabscheidung von piezoelektrischen Pb(Zr,Ti)O3-Dünnschichten zur Anwendung in mikroelektromechanischen Systemen Andreas Schatz |
title_short | Gepulste Laserabscheidung von piezoelektrischen Pb(Zr,Ti)O3-Dünnschichten zur Anwendung in mikroelektromechanischen Systemen |
title_sort | gepulste laserabscheidung von piezoelektrischen pb zr ti o3 dunnschichten zur anwendung in mikroelektromechanischen systemen |
topic | Mikrostruktur (DE-588)4131028-7 gnd Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 gnd PZT (DE-588)4329808-4 gnd Piezoelektrizität (DE-588)4322722-3 gnd Impulslaserbeschichten (DE-588)4476620-8 gnd CMOS (DE-588)4010319-5 gnd MEMS (DE-588)4824724-8 gnd Druckabhängigkeit (DE-588)4345882-8 gnd Temperaturabhängigkeit (DE-588)4203793-1 gnd Versuchsplanung (DE-588)4078859-3 gnd |
topic_facet | Mikrostruktur Dünne Schicht PZT Piezoelektrizität Impulslaserbeschichten CMOS MEMS Druckabhängigkeit Temperaturabhängigkeit Versuchsplanung Hochschulschrift |
url | http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=032029683&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA |
volume_link | (DE-604)BV037398759 |
work_keys_str_mv | AT schatzandreas gepulstelaserabscheidungvonpiezoelektrischenpbzrtio3dunnschichtenzuranwendunginmikroelektromechanischensystemen |