Elektrische Evaluierung silizidierter und dotierter Anschlussbereiche von FET-Kontaktgräben mit zunehmendem Aspektverhältnis:
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Bibliographic Details
Main Author: Hößler, Diana (Author)
Format: Thesis Book
Language:German
English
Published: Dresden [2019?]
Subjects:
Item Description:Tag der Verteidigung: 10.12.2019
Physical Description:xiii, 139 Seiten Illustrationen, Diagramme

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